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アンジェロンICP-MS 7500
アンジェロンAgilent 7500 ICP-MS誘導結合プラズマ質量分析は、周期表上のほぼすべての元素を迅速に同時に検出できる新しい無機元素と同位体分析技術である。ICP−MS技術は分析能力において、誘導結合プラズマ分光技術(ICPAES)、黒鉛炉原子吸収(GFAAS)、水銀冷原子吸収技術(CVA
製品の詳細

中古アンジェロンICP-MS 7500

中古ICPMS

アンジェロンAgilent 7500 ICP-MS誘導結合プラズマ質量分析は、周期表上のほぼすべての元素を迅速に同時に検出できる新しい無機元素と同位体分析技術である。ICP−MS技術は分析能力において、誘導結合プラズマ分光技術(ICPAES)、黒鉛炉原子吸収(GFAAS)、水銀冷原子吸収技術(CVAAS)などの従来の無機分析技術の総和を上回り、現代分析技術のよりエキサイティングな発展と呼ばれている。

Agilent 7500 ICP-MS技術の応用分野は以下を含む:

水道水、地表水、地下水、海水及び各種土壌、廃棄物等を含む環境サンプル分析
半導体材料の分析
ガラス、セラミックス、および製錬などのサンプル分析
地質学の研究
生物食品及び医薬の臨床研究
かくざいりょうぶんせき
石油化学サンプル分析
法医学の応用と研究

より近く、分離技術と併用して環境毒性、生命科学などの分野の元素の価格状態、形態分析を行うことがICP-MS技術の応用の焦点となっている。

アンジェロンAgilent 7500 ICP-MS解析特性:

周期表上のほぼすべての要素をすばやく同時に検出できる
より低い検出限界(ppqレベルまで低い)
分析によるメリット/コスト比の向上
より広い線形ダイナミックレンジ:ppqから数百ppmまでの濃度を直接検出
スペクトル線はより簡単で、干渉がより小さく、精度と精度が良い
試料量が低く(ul〜ml)、分析速度が速いことが必要(1〜3分/試料)
検出モードは柔軟で多様

半導体工業用常用材料における超微量汚染物質の分析

固体:Si、GaAa単結晶スライス、石英、炭化ケイ素などの炉材料、高純度金属電極等
液体:超純水、HF;HNO3;HCI;H2SO4;H2O2;アンモニア水等
ガス:SiH4;TE0S;NF3;N 2等

Agilent ICP-MSは有機試料を直接分析することができる。

Agilent ICP−MSの高効率エネルギー、高出力遮蔽モーメント冷プラズマ技術は、一連の有機試料のppt級微量汚染元素を測定するために使用されている。

その中のいくつかのサンプルに対して、他の方法では満足な結果が得られず、高出力遮蔽モーメント冷プラズマ技術は唯一の分析方法である。

強アルカリ性洗浄剤であるテトラメチルアンモニア水酸化物(TMAH)等
常用有機溶媒――トルエン、キシレン、IPAなど
高マトリックスサンプル——レジスト、液晶、BPS、PSGなどの揮発性の非常に強い洗浄剤——アセトン、メタノールなど


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